開爾文探針掃描是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環境金屬表面電位的測量技術，用于測量材料的功函數(WorkFunction)或表面勢(SurfacePotential)。它可以用于檢測氣相環境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學分析技術，是能夠測定氣相環境中腐蝕電極表面電位的方法。
特點：
(1)高速高分辨電位分布測量功能。
(2)快速變化電位分布測量功能。
(3)低噪聲電位分布測量功能。
(4)智能調試功能。
(5)實時測量顯示功能。
(6)電位分布數據解析功能。
(7)表面探針狀態監測功能。
(8)探針高度自動測量功能。
(9)探針-樣品防碰撞報警功能。
(10)移動平臺超限報警功能:具有X、Y、Z三軸正負方向超限報警停止移動功能。
(11)掃描方案定制功能:包括定時自動重復-分區-定點/掃描測量和自動返回起點功能。
開爾文探針掃描應用于以下領域:
(1)薄液膜(2~3000微米)金屬的電化學行為(極化曲線、電化學阻抗)。
(2)沉積物和氣相環境因素對大氣腐蝕行為影響。
(3)材料大氣腐蝕行為。
(4)氣相環境電偶腐蝕行為。
(5)氣相環境金屬局部腐蝕行為。
(6)氣相環境金屬應力腐蝕行為。
(7)氣相環境金屬滲氫行為。
(8)涂層失效行為與涂層性能評價。
(9)氣相緩蝕劑性能和作用機理。
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